菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240信息

菲希爾X射線測厚儀FISCHER代理特點

§  用途廣泛的鍍層厚度測量儀

§  通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.

§  配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點

§  比例計數器可實現數千cps（每秒計數率）的高計數率

§  從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。

§  底部C型開槽的大容量測量艙

FISCHERSCOPE X-RAY XULM240典型應用領域

§  測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層

§  電子行業中接插件和觸點上的鍍層

§  裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS

§  電鍍鍍層，如大規模生產零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe

§  珠寶和鐘表工業

§  測量電鍍液中金屬成分含量