菲希爾XDL臺(tái)式測厚儀信息

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 與 XDLM® 儀器和 FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 聯(lián)系緊密。二者沿用與 XULM® 相同的探測器、X 射線管、孔徑及附件組合，采用自上而下的測量方式。




該系列設(shè)備適用于鍍鋅批量零件檢測與鍍液分析，提供多種測量臺(tái)選擇，其中部分型號(hào)可用于自動(dòng)化系列測試。XDL® 配備標(biāo)準(zhǔn) X 射線管，其改進(jìn)型 XDLM® 則搭載微焦點(diǎn)管，并支持更換孔徑與初級(jí)濾光片，尤其適合連續(xù)檢測小型零件，在電子行業(yè)應(yīng)用廣泛。其 0 - 8mm 可變測量距離設(shè)計(jì)，可精準(zhǔn)測量插頭觸點(diǎn)等非平面部件。




作為電鍍批量部件測量的通用儀器，XDL®/XDLM® 具備無級(jí)測量距離、短測量時(shí)間、小測量點(diǎn)等優(yōu)勢，且通過型式認(rèn)證，符合現(xiàn)行輻射防護(hù)法規(guī)，保障操作安全。